Stéphane Labat
IM2NP
Faculté des Sciences et Techniques
Avenue Escadrille Normandie Niemen
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13397 Marseille Cedex 20
France

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Maître de conférences, Université d'Aix-Marseille

Domaines d'activité :

Etudes des inhomogénéités de contrainte et de déformation dans les objets de petites dimensions (nanométrique ou micrométrique). Mesure par diffraction X cohérente et incohérente.
Trois cas retiennent tout particulièrement mon attention :
1) Films polycristallins métalliques. L’interaction entre les grains via les joints de grains entraîne des inhomogénéités de contrainte de grain à grain ainsi qu’à l’intérieur des grains.
2) Multicouches métalliques : la diffusion dans des multicouches métalliques Mo/V et Cu/Ni entraîne une relaxation des contraintes à l’échelle nanométrique au voisinage de l’interface.
3) Nanocristaux de ZrC et d’Au

Publications récentes dans des revues avec comité de lecture

Bigault T., Bocquet F., Labat S., Thomas O., Renevier H. Chemically diffuse interface in, 111Au-Ni multilayers: an anomalous X-Ray diffraction analysis. Appl. Surf. Science, 188, 110-114, 2002

Chocyk D., Proszynki A., Gladyszewski G., Labat S., Gergaud P., Thomas O. Stresses in multilayered systems: test of the sin2y method. Adv. Eng. Materials, 4, 557, 2002

Chocyk D., Proszynsky A., Gladyszevski G. , Labat S., Gergaud P., Thomas O. Determination of stress in Au/Ni multilayers by symmetric and asymmetric X-ray diffraction. Optica Applicata, 32, 333-337, 2002

Labat S., Guichet C., Thomas O., Gilles B., Marty A. Microstructural analysis of Au/Ni multilayers RDI by SAXS and STM. Applied Surface Science, 188, n° 1-2, 182-7, 2002

Parmentier R., Lemarchand F., Cathelino M., Lesquine M., Amra C., Labat S., Bozzo S., Bocquet F., Charai A., Thomas O. Piezoelectric tantalum pentoxide studied for optical tunable application. Applied Optics, 41, 3270-3276, 2002

Thomas O., Müller P., Labat S., Gergaud P. Influence of segregation on the measurement of stress in thin films. J. Appl. Phys., 91, 2951, 2002

Bocquet F., Bigault T., Alfonso C., Labat S., Thomas O., Charai A. In situ stress measurements during the growth at different temperatures of Ag-Cu, 111 multilayers. J. Appl. Phys., 95, 1152-61, 2004

Labat S., Bocquet F. , Gilles B., Thomas O. Stresses and interfacial structure in Au-Ni and Ag-Cu metallic multilayers. Scripta-Materialia, 50 , 717-21, 2004

Thomas O., A. Loubens, P. Gergaud, Labat S. X-ray scattering: a powerful probe of lattice strains in materials with small dimensions. Applied Surface Science, vol. 253, p. 182, 2006

Benoudia M.C., Roussel J.M., Labat S., Thomas O., Beke D.L., Langer G., Kis-Varga M. Investigating interdiffusion in Mo/V multilayers from x-ray scattering and kinetic simulations. Defect and Diffusion Data, vol. 264, p. 13, 2007

Labat S., Chamard V., Thomas O. Local strain in a 3D nanocrystal revealed by 2D coherent X-ray diffraction imaging. Thin Solid Films, vol.  515, p. 5557, 2007

Chamard V., Stangl J, Labat S, Mandl B, Lechner RT, Metzger TH. Evidence of stacking-fault distribution along an InAs nanowire using micro-focused coherent X-ray diffraction. Journal of Applied Crystallography, vol. 41, p. 272-280, 2008

Kaouache B., S. Labat, O. Thomas, S. Maitrejean, V. Carrreau. Texture and strain in narrow copper damascene interconnect  lines: an x-ray diffraction analysis. Microelectronic Engineering, vol. 85, p. 2175-2178, 2008



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