page personnelle

Maître de conférences, Université d'Aix-Marseille

Equipe Défauts étendus et nano-objets

Domaines d'activité :

Transformations de phase et réactivité interfaciale
Genèse et relaxation des contraintes dans les films minces
Microscopie Electronique en Transmission (TEM)
Diffraction Electronique en Faisceau Convergent (CBED)

Publications récentes dans des revues avec comité de lecture

A. Charaï, T. Walther, C. Alfonso, A.M. Zahra, C.Y. Zahra.- « Coexistence of clusters, GPB zones, S'', S' and S phases in Al-0.9%Cu-1.4%Mg alloy ».- Acta Materiala, 48 (2000) 2751-2764

A. Charaï, M. Benaissa, C. Alfonso, L. Fares, O.B.M. Hardouin-Duparc, J.L. Rouvière, J. Thibault.- « Structural change induced on an atomic scale by equilibrium sulphur segregation in tilt germanium grain boundaries ».- Philosophical Magazine B, 81 (11), (2001), 1821

C. Alfonso, L. Fares, A. Charaï, Y. Huiban, D. Gallet, M. Ismeurt.- « Interfacial reactions in relation with adhesion failures in Al/TiN/Ti/SiO₂ and Al/TiN/Ti/borophosphososilicate glass systems ».- Eur. Phys. J. AP 22, (2003) 3

F. Bocquet, T. Bigault, C. Alfonso, S. Labat, O. Thomas, A. Charaï.- « In situ stress measurements during the growth at different temperatures of Ag-Cu (111) multilayers ».- J. Appl. Phys. 95(3) (2004) 1152

H. Varlet, C. Curtil, C. Alfonso, N. Burle, A. Arnoult, C. Fontaine, M. Laügt.- « Characterization by X-ray diffraction and Electron Microscopy of GaInAs & GaAsN single layers and quantum wells grown on GaAs “.- Physica E, Low-dimensional systems & nanostructures, 23(3-4), (2004), 362

L. Alexandre, K. Rousseau, C. Alfonso, W. Saikaly, L. Fares, C. Grosjean, A. Charaï.- “Optimized FIB silicon samples suitable for lattice parameter measurements by Convergent Beam Electron Diffraction” .- Micron (2007), accessible à http://dx.doi.org/10.1016/j.micron.2007.01.005